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    四探针薄膜电阻率测试仪

    型号:

    产品时间:2020-03-24

    简要描述:

    四探针薄膜电阻率测试仪,半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试,四探针测试仪根据量程可以划分为,低阻四探针测试仪测到-6次方;高阻四探针测试仪测到7次方至9次方;,双电测四探针测试仪测到-5次方到5次方,单电测四探针测试仪-5次方到5次方,

    详细介绍

    FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪

    FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester

    1. 四探针薄膜电阻率测试仪应用说明:

    涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

    硅晶块、晶片电阻率及扩散层、

    EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,

    EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择,

    二.四探针薄膜电阻率测试仪描述:

    采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.

    规格型号/ model

    FT-341

    FT-342

    FT-343

    FT-345

    FT-346

    FT-347

    1.方块电阻

    10-5~2×105Ω/□

    10-4~2×105Ω/□

    10-3~2×105Ω/□

    10-3~2×104Ω /□

    10-2~2×105Ω/□

    10-2~2×104Ω/□

    2.电阻率

    10-6~2×106Ω-cm

    10-5~2×106Ω-cm

    10-4~2×106Ω-cm

    10-4~2×105Ω-cm

    10-3~2×106Ω-cm

    10-3~2×106Ω-cm

     

          

     


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