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    导电性薄膜方阻测试仪测定方法

    型号:

    产品时间:2020-03-24

    简要描述:

    导电性薄膜方阻测试仪测定方法,按标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》

    详细介绍

    导电性薄膜方阻测试仪测定方法

      标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》

    显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

    测试方式: 普通单电测量

    工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

    整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

    选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

    测试探头:   探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

    导电性薄膜方阻测试仪测定方法

    配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表

     


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