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    涂层双电测电四探针方阻电阻率测试仪

    型号:

    产品时间:2020-03-24

    简要描述:

    涂层双电测电四探针方阻电阻率测试仪,该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析。

    详细介绍

    涂层双电测电四探针方阻电阻率测试仪

    双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高度,特别是适用于斜置式四探针对于微区

     

    涂层双电测电四探针方阻电阻率测试仪

    1.方块电阻范围:10-4~2×103Ω/□

    2.电阻率范围:10-5~2×104Ω-cm

    3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

    4.电流精度:±0.2%读数

    5.电阻精度:≤0.3%

    6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

    7.测试方式: 双电测量

    8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

    9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

    10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

    11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

     


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