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    方块电阻的计算方法
    时间:2020-11-05 点击次数:194
    方块电阻又称膜电阻,是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值,该数值大小可直接换算为热红外辐射率。
     
    方块电阻的计算方法:
     
    方块电阻:Rs=ρ/t(其中ρ为块材的电阻率,t为块材厚度)
    或者写成电导率的表达式:Rs = 1/(σt)
    这样 在计算块材电阻的时候,我们就可以利用方块电阻乘以长宽比例得到,计算过程与维度无关:
    R=Rs*L/W(L为块材长度,W为块材宽度)
     
    方块电阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。大显示屏,直观度数,稳定性好,可以外接其他控制单元,与其他系统集成使用;适用于覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜等。
     

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